本文標(biāo)題:如何使用偏光顯微鏡對晶體的形態(tài)進(jìn)行檢測
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源:未知 發(fā)布時間:2015-9-24 11:10:22
如何使用偏光
顯微鏡對晶體的形態(tài)進(jìn)行檢測
對于晶體物質(zhì)而言它的形成是具有一定的結(jié)晶習(xí)性的,
這樣才能夠構(gòu)成一定的形態(tài)結(jié)構(gòu)組織以及晶體的形狀和
大小。
而晶體的形成是與晶體的形成程度以及完整的程度和形
成條件和順序是相關(guān)的,密不可分的,而通常則可以形
成的晶體有自形晶體、半自形晶體和其它形狀的晶體。
所以說晶體的形貌形狀不僅僅是推斷晶體形成的條件,
而同時對于整個立體晶體的形態(tài)是需要使用偏光顯微鏡
進(jìn)行檢測其形態(tài)的。
通常情況下我們會利用偏光顯微鏡中的單偏光鏡進(jìn)行檢
測晶體的形成程度與規(guī)則程度。
將本頁加入收藏
下一篇:晶體物質(zhì)表面的檢測中出現(xiàn)的顏色與多色性
上一篇:碳纖維鞘芯結(jié)構(gòu)的偏光顯微鏡檢測法
本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司,本文地址:http://www.x81g.cn/xinwen/1842.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴:http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科