其他資訊
本文標題:偏光顯微檢測時的晶體接觸
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-9-27 14:08:15
偏光顯微檢測時的晶體接觸
通常我們在使用偏光顯微鏡進行顯微檢測研究分析時，
則主要是根據兩個晶體物質之間傾斜接觸進行的。
在進行接觸晶體之產間折射率大的面會比折射率小的晶
體之上，不會因為接觸面的平行光照射到接觸面從而進
入到介質當中。
因此兩個相鄰的傾斜晶體物質接觸面，則是概括了晶體
檢測表面上的突起與晶體單光偏振檢測晶體表面時發(fā)現
晶體的表面是光滑的。
而在這種情況下作偏光顯微檢測的晶體物質，則是表面
顯得比較粗糙的呈現麻點的粗糙表面晶質。
將本頁加入收藏
下一篇：使用單偏光鏡進行觀察晶體的表面情況
上一篇：物理實驗時所需要的實驗性
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://www.x81g.cn/xinwen/1846.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
