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本文標(biāo)題:使用單偏光鏡進(jìn)行觀察晶體的表面情況

信息分類:站內(nèi)新聞　新聞來(lái)源：未知發(fā)布時(shí)間：2015-9-27 14:08:41

使用單偏光鏡進(jìn)行觀察晶體的表面情況

兩個(gè)相鄰的傾斜晶體物質(zhì)接觸情況下作偏光顯微檢測(cè)的

晶體物質(zhì)，檢測(cè)表面上的突起與晶體單光偏振檢測(cè)晶體

表面時(shí)發(fā)現(xiàn)粗糙的呈現(xiàn)麻點(diǎn)的粗糙表面晶質(zhì)。

因此兩個(gè)相鄰的傾斜晶體物質(zhì)檢測(cè)表面上的突起晶體粗

糙表面，進(jìn)行接觸晶體之產(chǎn)間折射率大的面會(huì)比折射率

小的檢測(cè)。

通常我們?cè)谑褂闷怙@微鏡進(jìn)行顯微檢測(cè)研究分析接觸

晶體之產(chǎn)間折射率與晶體單光偏振檢測(cè)晶體表面的情況

時(shí)，則是根據(jù)膠體折射率不同引起的。

因此對(duì)于兩個(gè)相鄰的傾斜晶體間折射率與偏振檢測(cè)晶體

表面折射率不同，這主要是在視覺上的突起表現(xiàn)，是表

現(xiàn)為晶體折射率的。

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