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本文標題:偏光顯微觀察與礦物質(zhì)的檢測

信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源:未知 發(fā)布時間:2015-10-5 13:38:45

偏光顯微觀察與礦物質(zhì)的檢測

對于偏光顯微鏡來說,它主要是由機械部件與光學部件
以及照明系統(tǒng)組合而成的。

因此我們可以說前透鏡愈小則顯微觀察時鏡頭就愈長,
同時顯微觀察時的放大倍數(shù)就愈大。

對于晶體物質(zhì)表面上的解理與解理角,則是一種地晶體
表面上沿著一定方向裂開而形成的光滑的平面的性質(zhì)稱
為解理。

因此對于七色光波吸收的不同程度就會出現(xiàn)不同的顏色
,這樣在透射后出現(xiàn)晶體顏色仍然是白光,只是光的強
度有所變化,而對于這種情況下人們稱為無色晶體。

而對于晶體中心一條比較亮的細線就是貝克線,當貝克
線發(fā)生則是由于相鄰兩個物質(zhì)折射率的不同在通過表面
時發(fā)生折射反射后引起的貝克線的規(guī)律。

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本文出自上海永亨光學儀器有限公司,本文地址:http://www.x81g.cn/xinwen/1865.html  
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